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卤素水分测定仪的温度校准标准操作程序XY-105MW/XY-100MW快速水分测定仪

      

卤素水分测定仪的温度校准标准操作程序XY-105MW/XY-100MW快速水分测定仪

概述
对于卤素水分测定仪的标准化和可重复的温度校准或校正,必须使用制造商的温度校准组件(梅特勒-托利多
HX/HS 认证的温度校准组件 HA-TCC:订货号30020851)。组件包含一个用于模拟样品表面的黑盘。黑色提供
较大辐射吸收量参照,因此对系统变化高度敏感。这最适合实现校准的高可再现性和可重复性。在测量过程
中,样品的温度取决于其吸收特性,因此可能会与黑盘上测得的温度不同
温度校准要考虑的影响因素
温度校准要考虑的影响因素下述因素是潜在的误差根源,它们可能会影响温度校准,并可能导致准确性、可再现性和可重复性出现偏
差。建议避免或者尽量减少这些影响。如果无法消除这些影响,则确保它们至少与快速水分测定仪常规操作
中出现的影响相同或者相似。

卤素水分测定仪的温度校准标准操作程序XY-105MW/XY-100MW快速水分测定仪
来自 HX204 或 HS153 卤素水分测定仪的影响
仪器必须安装完毕,以备常规操作
– 适应室温条件
– 通电足够长的时间(至少 1 小时)
加热单元已冷却
(1 小时内未加热)
加热系统清洁无损坏
– 反射器未受损或变脏
–(小的斑点或直径为 2mm 以下的损坏可接受)
– 温度传感器洁净
– 保护玻璃洁净
确保温度校准组件的触点两侧均洁净(校准组件和卤素水分测定仪)。如果
必要,使用温和的溶剂进行清洁。
来自温度校准组件的影响
始终将温度校准组件存放在其原有包装中。
• 小心操作温度校准组件,完全冷却后将其放入包装中。
• 只使用具有有效校准证书的温度校准组件,以提高准确性并保证可追溯性。
定期进行校准。
• 如果出现任何影响温度校准组件的改动,应立即重新进行校准。
梅特勒-托利多的校准服务将提供相关建议。
• 请勿刮花黑盘表面或在温度校准组件上粘贴标签。
来自环境的影响
确保环境温度在规定范围内 (5 °C – 40 °C)
确保在作业环境的使用地点进行温度校准(例如,如果装置在安全柜中运行,
安全柜的风扇和门应与日常操作时相同)。

卤素水分测定仪的温度校准标准操作程序XY-105MW/XY-100MW快速水分测定仪
校准程序
准备
• 确保遵循在“温度校准要考虑的影响因素”下列出的条件
• 确保在温度测试前进行灵敏度测试(如果需要),以避免较长的冷却时间
测试程序
• 根据操作说明中的描述启动加热模块的温度测试
• 取下样品盘手柄 (1)(含样品盘)和样品盘支架 2)
• 确保触点清洁 (3)
• 然后将温度校准组件放入仪器中
•开始温度校准 – 该过程大概 30 分钟
– 仪器开始校正过程。屏幕显示当前温度和剩余时间
– 仪器加热到目标温度 1,以检验预定义的较低温度测试点
– 15 分钟后,仪器记录低温点
– 接着仪器加热到目标温度 2,以检验预定义的较高的温度测试点
– 15 分钟后,仪器记录高温度点
• 显示测试结果和合格/不合格声明
• 要打印结果,点击打印按钮
• 如需要校正:
– 选择“根据测试结果校正”
– 取下校准组件,使仪器冷却至室温
– 重复进行校准,确认校正是否成功
• 如果不需要进行校正
– 完成校准
– 使 HX/HS 温度校准组件冷却,并将其存放在原有包装中
卤素水分测定仪的温度校准标准操作程序XY-105MW/XY-100MW快速水分测定仪

评估
• 评估结果是否超出定义的“警告限值”1)
• 评估结果是否超出定义的“控制限值”2)
偏差
警告限值 1)(如已定义)
• 如果超出警告限值,请将情况告知实验室主管或负责水分测定仪的人员
• 选择“根据测试结果校正”,校正仪器
• 使仪器和温度校准组件冷却至室温
• 再次进行校准,确定是否成功校正
• 如果仍超出警告限值,请向实验室主管或负责水分测定仪的人员报告此情况。也可联系梅特勒-托利多
的服务部门寻求建议
控制限值 2)
• 如果超出控制限值,请将情况告知实验室主管或负责水分测定仪的人员
• 标记卤素水分测定仪“超出控制限值”
• 联系梅特勒-托利多服务部门寻求帮助
推荐用于温度校准的警告和控制限值
卤素水分测定仪 HX/HS
警告限值± 3 °C
控制限值± 5 °C

卤素水分测定仪的温度校准标准操作程序XY-105MW/XY-100MW快速水分测定仪


供应幸运快速水分测定仪XY-105MW卤素水分测定仪/红外水分测定仪/水分测量仪采用卤素灯热解重量原理,是一种快速的水分检测仪器。较大称重:110g;精度:0.005g;水分测量范围:0.01%-100%;可读性:0.01%;温度范围:室温—200℃;加热方式:卤素灯;测量结果:水份和干重含量%、水份含量%、湿度%供应幸运快速水分测定仪XY-105MW卤素水分测定仪/红外水分测定仪/水分测量仪

供应幸运快速水分测定仪XY-105MW卤素水分测定仪/红外水分测定仪/水分测量仪的详细介绍

供应幸运快速水分测定仪XY-105MW卤素水分测定仪/红外水分测定仪/水分测量仪

卤素水分测定仪,采用卤素灯热解重量原理,是一种快速的水分检测仪器。水分测定仪在测量样品重量的同时,卤素灯加热单元和水分蒸发通道快速干燥样品,在干燥过程中,水分仪持续测量并即时显示样品丢失的水分含量%,干燥程序完成后,最终测定的水分含量值被锁定显示。

供应幸运快速水分测定仪XY-105MW卤素水分测定仪/红外水分测定仪/水分测量仪

与国际烘箱加热法相比,卤素加热可以最短时间内达到较大加热功率,在高温下样品快速**燥,其检测结果与国标烘箱法具有良好的一致性,具有可替代性,且检测效率远远高于烘箱法。一般样品只需几分钟即可完成测定。且操作简单,测试准确,分别可显示水分值、干燥值、测定时间、温度值、等数据。并具有与计算机,打印机连接功能。

供应幸运快速水分测定仪XY-105MW卤素水分测定仪/红外水分测定仪/水分测量仪

 

  • 技术参数 

产品型号

XY-105MW

XY-102MW

XY-100MW

较大称量

    110

    110

    110

读书精度

   0.005

   0.002

    0.001

使用温度

5°C---35°C

显示屏

液晶

校准方式

外部校准

秤盘尺寸

Φ90

加热方式

卤素灯

温度范围

40°C---199°C

温度间隔

1°C

水分范围

0.00%---100%

水分可读精度

0.01%

干燥剩余范围

100.00%---0.00%

干燥剩余可读

0.01%

ATRO

100%---999%

ATRO

0%---999%

温度设定

40°C---199°Cby1°Cstep

时间设定

1---99min  by  1s    step

自动停止

0.1%---9.9%within  1 min

储存历史

15

加热部分

220V+15%50Hz   115V+15%     400W

连接部分

R232接口

供应幸运快速水分测定仪XY-105MW卤素水分测定仪/红外水分测定仪/水分测量仪

卤素水分测定仪使用注意事项:

1.卤素水分测定仪是用来测量样品中的水份含量,用于其他任何用途都可能会对个人造成伤害并

损坏仪器。

2、使用前请务必认真阅读说明书,勿在不符合要求的环境条件下使用。

3、卤素快速水分测定仪仅供熟悉样品性质和受训过的专业人员使用。

4、卤素快速水分测定仪电源为三插带接地插座,禁示断开仪器接地线或使用没有良好接地的电源。

5、仪器的周围应确保有足够的空间,以免热量堆积和过热。

6、由于仪器周围的加热单元四周区域会变热,请勿在仪器周围放置易燃物品。

7、测试结束后,由于样品本身和加热单元和其容器仍会很烫,因此在取走样品时应小心谨慎。

8、在加热烘干过程中,环形加热无件温度会达到400℃。因此请勿打开或接触加热单元。如需要打

开请断开电源并等待,直至其完全冷却。

9、对于可燃或易燃物品、含溶剂基质、加热时会产生可燃或易爆气体的基质,特别小心,因为这

些样品,可能会对人体产生危害或损坏设备。因此,在测定这种样品时,应使操作加热温度足够低

以防形成火焰或爆炸物,并戴好护目镜等防护用具。如果对样品的可燃性不是很了解时,测试样品

量应尽量少。这种情况下,仪器应有专人看管,以防万一,实验前请自行做好风险分析。

10、对含有毒性元素的基质,这种基质只能在有良好通风设备的条件下进行加热烘干。

11、加热烘干时产生腐蚀性蒸汽的基质,在测量这种基质的样品时,因蒸汽会凝结在较冷的外壳部

分产生腐蚀,建议减少样品克重。

 

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